然而,使用动态图像分析,不仅可以更精确和全面地表征粒子,而且在分辨率、精度和重现性方面也比筛析更快、更优。基于独特的双摄像头技术,RETSCH技术的CAMSIZER P4用动态图像分析(DIA)测量粉末、颗粒和散状材料的大小和形状,范围从20微米到30毫米。
DIA技术比筛分分析快得多,可以实时监控和调整生产参数。由于模拟筛分分析的算法,从筛分分析到CAMSIZER P4的平滑变化很容易实现。
Camsizer P4可靠地分析各种散装材料的所有尺寸和形状参数,包括球形和不规则形状的颗粒和晶体,粒料和挤出物。
由于稳健的结构和对扰动敏感的测量技术,粒子分析仪也适用于在挑战性工业条件下的操作。
与可选的自动进样器相结合,由于自动化的样品测量,可以通过高样品吞吐量提高效率。
对于尺寸范围为0.8微米至8 mm的颗粒的干燥和湿法测量,RETSCH技术提供了CAMSIZER X2模型,该模型也使用动态图像分析。
RetSch GmbH是用于中性到分析样品制备和固体表征的领先解决方案提供商。在100年的经验的基础上,RetSch开发了创新的尺寸减少和筛分设备,其特点是出色的性能,操作便利,安全和寿命长。自1990年以来,Retsch已经......