我们寻求持续改进,使客户受益,并在磁选、输送和金属检测方面提供更高的卓越标准。
近年来,邦廷的大量努力都用于改进我们的金属检测设备,特别是我们的meTRON™05和07 CI。我们最新一代的闭环隧道式金属探测器增加了三倍频信号处理,以实现更高的灵敏度。这些新的集成控件增强了先前由Bunting提供的创新imagePHASE平台。这些控制允许处理器学习包装食品在三种不同的条件下,选择灵敏度最高的。这使得Bunting金属探测器能够探测出一层层的袋装或包装材料,甚至挑出最微小的可能作为污染物残留的金属碎片。
探测器的更新控制显示预期的灵敏度,反映了所有三种主要金属类型——黑色金属、有色金属和不锈钢。该设备还配备了autoTEST™功能,可以验证探测器的灵敏度和校准是否正确,而无需手动通过测试块。autoTEST™是可编程的各种用户定义的测试间隔,以及各种金属尺寸。
Bunting公司金属检测产品经理Barry Voorhees表示:“当在包装商品中发现金属碎片时,成本是金钱、客户和声誉。“该行业要求采取更大的保护措施,我们正在回应这些要求。我们相信我们的客户会喜欢我们隧道式探测器的新可选控制,以增强金属探测灵敏度,以及我们的其他新功能,如用于质量控制日志的USB接口和彩色触摸屏。”
邦廷的隧道式金属探测器是一种多功能设备,可配置为适合任何输送系统,具有标准的拒收系统和不同的孔径大小,以适合各种包装货物。要了解更多有关邦廷创新产品和高灵敏度金属探测器的信息,请立即与我们联系。